Position Description

Μη-γραμμική οπτική μικροσκοπία κρυσταλλικών υλικών 

Related Project

Required Qualifications

• Πτυχίο Θετικών Επιστημών  
• Μεταπτυχιακός Τίτλος (MSc) Θετικών Επιστημών  
• Δημοσιεύσεις σχετικές με το αντικείμενο της θέσης  
• Καλή γνώση της Αγγλικής γλώσσας (επίπεδο Lower)

Application Procedure

Στο φάκελο υποβολής της πρότασης θα πρέπει να εμπεριέχονται τα ακόλουθα:

• Αίτηση  (form Greek στην αριστερή στήλη) με αναφορά στον κωδικό της θέσης
• Αναλυτικό Βιογραφικό Σημείωμα
• Ευκρινή φωτοαντίγραφα τίτλων σπουδών
• Πρόσφατη βεβαίωση σπουδών υποψήφιου διδάκτορα

ΥΠΟΒΟΛΗ ΠΡΟΤΑΣΕΩΝ

Οι ενδιαφερόμενοι καλούνται να υποβάλουν τις αιτήσεις τους και όλα τα απαραίτητα δικαιολογητικά, ηλεκτρονικά στη διεύθυνση hr@iesl.forth.gr με κοινοποίηση (cc): στον Δρ Εμμ. Στρατάκη (stratak@iesl.forth.gr). Οι αιτήσεις θα πρέπει να αποσταλούν με την ένδειξη: «Αίτηση στο πλαίσιο της πρόσκλησης εκδήλωσης ενδιαφέροντος με Α.Π. … και κωδικό θέσης … » (όπως αυτός αναφέρεται στον Πίνακα του Παραρτήματος). 

Appointment Duration

Position Description

Fabrication and characterization of strain sensors based on inorganic and organic conducting materials.

For the full announcement, follow the link "Related Documents"

Required Qualifications

• BSc in Physics/Chemistry/Materials Science or relevant 
• Specialization and hands-on training in a broad range of physical characterizations of materials

Application Procedure

Interested candidates who meet the aforementioned requirements are kindly asked to submit their applications to the address (hr@iesl.forth.gr), with cc to Dr Eleni Pavlopoulou (epavlopoulou@iesl.forth.gr).

In order to be considered, the application must include:

• Application Form (Form Greek or Form English to the left)
• Brief CV
• Scanned copies of academic titles
• University department certificate for enrollment in a master’s program

Appointment Duration