Position Description

Βελτιστοποιημένο πρωτόκολλο κρυσταλλογραφικού χαρακτηρισμού νανοϋλικών που αφορά στην παροχή τεχνικής υποστήριξης των υποδομών νανοσύνθετων υλικών (περίθλαση ακτίνων Χ, διαφορική θερμιδομετρία σάρωσης) 

Για το πλήρες κείμενο της πρόσκλησης ακολουθήστε τον σύνδεσμο 'Related Documents'

Required Qualifications

• Πτυχίο φυσικών επιστημών (φυσική, χημεία, επιστήμη υλικών) ή μηχανικού  
• Μεταπτυχιακό σε φυσικές επιστήμες  
• Εμπειρία στην τεχνική υποστήριξη και τον χειρισμό περιθλασιμέτρου ακτίνων Χ  
• Εμπειρία στην τεχνική υποστήριξη σε ερευνητικό εργαστήριο  
• Εμπειρία στην διεξαγωγή πειραμάτων στην περιοχή χαλαρής συμπυκνωμένης ύλης  

Application Procedure

Οι ενδιαφερόμενοι καλούνται να υποβάλουν τις αιτήσεις τους και όλα τα απαραίτητα δικαιολογητικά, ηλεκτρονικά στη διεύθυνση hr@iesl.forth.gr με κοινοποίηση (cc): στην Δρ Κ. Χρυσοπούλου (kiki@iesl.forth.gr).

Οι αιτήσεις θα πρέπει να αποσταλούν με την ένδειξη: «Αίτηση στο πλαίσιο του προγράμματος INNOVATION-EL, της πρόσκλησης εκδήλωσης ενδιαφέροντος με Α.Π. … και κωδικό θέσης … » (όπως αυτός αναφέρεται στον Πίνακα του Παραρτήματος).

Appointment Duration