Patents

Inventor(s): A. Georgakilas, K. Aretouli, K. Tsagkaraki
Title: Method for Heteroepitaxial Growth of III Metal-Face Polarity III-Nitrides on Substrates with Diamond Crystal Structure and III Nitride Semiconductrs
Applicant(s): FORTH
Patent No: PCT/EP2013/058560
Filing Date: 2013


Inventor(s): Π. Τζάλλας, Γ. Κολλιόπουλος
Title: Συσκευή παραγωγής σύμφωνης ακτινοβολίας συνεχούς φάσματος μεγάλου εύρους στην περιοχή του βαθέους υπεριώδους κενού
Applicant(s): FORTH
Patent No: 2012-01353
Filing Date: 2012
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)
H AITHΣΗ ΔΕΝ ΘΕΩΡΗΘΗΚΕ ΠΛΗΡΗΣ ΛΟΓΩ ΥΠΕΡΒΑΣΗΣ ΤΗΣ ΠΡΟΘΕΣΜΙΑΣ ΤΩΝ 4 ΜΗΝΩΝ ΓΙΑ ΤΑΚΤΟΠΟΙΗΣΗ ΑΤΕΛΕΙΩΝ ΟΠΩΣ ΠΡΟΒΛΕΠΕΤΑΙ


Inventor(s): Α. Λάππας, Α. Κωστοπούλου
Title: Σιδηριμαγνητικά κολλοειδή νανοσυσσωματώματα νανοκρυστάλλων μαγκεμίτη για εφαρμογές απεικόνισης μαγνητικού συντονισμού (MRI)
Applicant(s): FORTH
Patent No: 2012-02471
Filing Date: 2012


Inventor(s): Α. Γεωργακίλας, Κ. Αρετούλη, Αικ. Τσαγκαράκη
Title: Μέθοδος ετεροεπιταξιακής ανάπτυξης ΙΙΙ-Νιτριδίων, πολικότητας μετώπου-μετάλλου ΙΙΙ, πάνω σε υποστρώματα αδάμαντα
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20120100227
Filing Date: 2012
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): W. von Klitzing and Vasiliki Bolpasi
Title: A double-passed injection locked tapered laser amplifier
Applicant(s): FORTH
Patent No: PCT/EP2011/071092
Filing Date: 2011
Αποσύρθηκε (2013)


Inventor(s): Κ. Φωτάκης, Α. Ρανέλλα, Γ. Φιλιππίδης, Γ. Τσερεβελάκης, Ε. Αθανασάκη, Χ. Κυβελίδου
Title: Χρήση μη-γραμμικών απεικονιστικών τεχνικών για την αξιολόγηση της ποιότητας εμβρύων προεμφυτευτικού σταδίου και την προώθηση επιτυχούς εγκυμοσύνης
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20110100030
Filing Date: 2011
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): W. von Klitzing, Β. Μπόλπαση
Title: Βελτίωση της ενίσχυσης δέσμης λέιζερ μέσω διπλής διέλευσης της δέσμης από τον ενισχυτή
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20100100687
Filing Date: 2010
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): Benoit Loppinet (ΙΗΔΛ/ΙΤΕ), Peter Lang (Forschungszentrum Julich GmbH, Germany)
Title: Near Field Laser Doppler Velocimetry Near Walls
Applicant(s): Forschungszentrum Julich GmbH
Patent No: 10 162 191.0
Filing Date: 2010
Valid In: EPO


Inventor(s): G. Kiriakidis, V. Tudose
Title: Photocatalytic powder comprised of Titanium Dioxide and Manganese Dioxide active under UV and Visible Light
Applicant(s): FORTH
Patent No: PCT/EP2010/070872
Filing Date: 2010
Ευρωπαϊκό Γραφείο ΕΡ 10798358.7, ΗΠΑ (US 13/519,999), Κίνα (CN 102686311 A)


Inventor(s): P. Rakitzis
Title: Intra-cavity total reflection Ellipsometer system for time-dependent and sensitive measurement of ellipsometric parameters of material
Applicant(s): FORTH
Patent No: PCT/IB2010/001154
Filing Date: 2010


Inventor(s): Γ. Κυριακίδης, V. Tudose
Title: Φωτοκαταλυτική σκόνη αποτελούμενη από διοξείδιο του τιτανίου και διοξείδιο του μαγγανίου που ενεργοποιείται παρουσία υπεριώδους ακτινοβολίας και ορατού φωτός
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20090100724/1007062
Filing Date: 2009
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): Benoit Loppinet (ΙΗΔΛ/ΙΤΕ), Peter Lang (Forschungszentrum Julich GmbH, Germany)
Title: Verfahren zur Ermittlung der Geschwindigkeit von in einer strömenden Lösung dispergierten Partikeln
Applicant(s): Forschungszentrum Julich GmbH
Patent No: 10 2009 023679.1-52
Filing Date: 2009
Valid In: Germany


Inventor(s): C.P. Grigoropoulos, N. Misra, D.J. Hwang, C. Fotakis, P. Tzanetakis, E. Stratakis, E. Spanakis
Title: “Imaging of Nanodevices and Nanostructures with Electrical Atomic Force Microscopy Complimented with Femtosecond Laser Illumination
Applicant(s): University of California, Berkeley
Patent No: Β-08-092
Filing Date: 2008
Valid In: USA


Inventor(s): J. Ripoll, V. Ntziachristos
Title: Removal of boundaries in diffuse media
Applicant(s): FORTH
Patent No: PCT/GR/2006/000068
Filing Date: 2006


Inventor(s): J. Ripoll, Β. Ντζιαχρήστος
Title: Αφαίρεση συνοριακών επιφανειών σε διάχυτα μέσα
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20050100621/1005346
Filing Date: 2005
Expiration Date: 21/12/2025
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)
Αποσύρθηκε (2012)


Inventor(s): V. Zafiropoulos, V. Pouli, A. Eglezis, A. Petrakis
Title: Method and System for Cleaning Surfaces with the Use of Laser Pulses of two Different Wavelengths
Applicant(s): FORTH
Patent No: ΕΡ 03386004.0-2307
Filing Date: 2003
Valid In: EPO


Inventor(s): B. Ζαφειρόπουλος, Π. Πουλή, Α. Εγγλέζης, Α. Πετράκης
Title: Μέθοδος και σύστημα για τον καθαρισμό επιφανειών με τη σύγχρονη χρήση παλμών laser δύο διαφορετικών μηκών κύματος
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20020100116/1004453
Filing Date: 2002
Expiration Date: 2/3/2022
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): Α. Γεωργακίλας, Ε. Δημάκης, Ν. Πελεκάνος
Title: Ανάπτυξη με τη μέθοδο Επίταξης με Μοριακές Δέσμες με Πηγή Πλάσματος Αζώτου ετεροδομών ημιαγωγών Νιτριδίων που περιλαμβάνουν στρώματα κραμάτων Νιτριδίου του Ινδίου-Αργιλίου-Γαλλίου
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20020100376/1004675
Filing Date: 2002
Expiration Date: 10/8/2022
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)


Inventor(s): K. Vassilevski, K. Zekentes
Title: Method of making an ohmic contact to p-type silicon carbide, comprising titanium carbide and nickel silicide
Applicant(s): FORTH
Patent No: 6599644
Filing Date: 2001
Expiration Date: 4/10/2021
Valid In: USA


Inventor(s): Α. Kλίνη, Ι. Γιαπιντζάκης, Κ. Φωτάκης, C. Grigorescu, Β. Ζορμπά
Title: Μέθοδος σύνθεσης διαμεταλλικών σιδηρομαγνητικών υμενίων
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20010100176/1003869, Int. Appl. No: PCT/GR02/00022
Filing Date: 2001
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)
Αποσύρθηκε (2012)


Inventor(s): Β. Λαδόπουλος
Title: Σύστημα αύξησης της ευκρίνειας τοποθέτησης του δρομέα σε μηχανές γραμμικής μετατόπισης
Applicant(s): FORTH
Patent No: 20010100384/1005826
Filing Date: 2001
Expiration Date: 3/8/2021
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)
τα αποτελέσματα αξιοποιήθηκαν ως μέρος της τεχνολογίας της εταιρείας spin-off COMPITEnt AE


Inventor(s): Ν.A. Βάϊνος, Σ. Μαϊλης, Σ. Πισσαδάκης, Λ. Μπουτσικάρης, και Κ. Φωτάκης
Title: Χάραξη οπτικών μικροδομών και χρήσεις
Applicant(s): FORTH
Patent No: 950100097/1002163
Filing Date: 1995
Expiration Date: 10/3/2015
Valid In: Greece (Industrial Property Organization)
τα αποτελέσματα αξιοποιήθηκαν ως μέρος της τεχνολογίας της εταιρείας spin-off COMPITEnt AE


BL
BR