W. von Klitzing and Vasiliki Bolpasi
"A double-passed injection locked tapered laser amplifier"
Αρ. αίτησης: 201001000687

P. Rakitzis
"Intra-cavity total reflection Ellipsometer system for time-dependent and sensitive measurement of ellipsometric parameters of material"
US Patent (Under Negotiation)

Γ. Κυριακίδης, V. Tudose
"Φωτοκαταλυτική σκόνη αποτελούμενη από διοξείδιο του τιτανίου και διοξείδιο του μαγγανίου που ενεργοποιείται παρουσία υπεριώδους ακτινοβολίας και ορατού φωτός"
Αρ. αίτησης: 20090100724/1007062

G. Kiriakidis, V. Tudose
"Photocatalytic powder comprised of Titanium Dioxide and Manganese Dioxide active under UV and Visible Light"
PCT/EP2010/070872

Benoit Loppinet (ΙΗΔΛ/ΙΤΕ), Peter Lang (Forschungszentrum Julich GmbH, Germany)
"Verfahren zur Ermittlung der Geschwindigkeit von in einer strömenden Lösung dispergierten Partikeln"
Invention PT 0.2686 German Patent Application 10 2009 023679.1-52

Benoit Loppinet (ΙΗΔΛ/ΙΤΕ), Peter Lang (Forschungszentrum Julich GmbH, Germany)
"Near Field Laser Doppler Velocimetry Near Walls"
European Patent Application: 10 162 191.0

Α. Γεωργακίλας, Ε. Δημάκης, Ν. Πελεκάνος
"Ανάπτυξη με τη μέθοδο Επίταξης με Μοριακές Δέσμες με Πηγή Πλάσματος Αζώτου ετεροδομών ημιαγωγών Νιτριδίων που περιλαμβάνουν στρώματα κραμάτων Νιτριδίου του Ινδίου-Αργιλίου-Γαλλίου"
Αριθμός αίτησης: 20020100376/1004675

K. Vassilevski, K. Zekentes
"Method of making an ohmic contact to p-type silicon carbide, comprising titanium carbide and nickel silicide"
U.S. and Canadian patent pending (US Patent Office Serial No 60/238,048).

J. Ripoll, Β. Ντζιαχρήστος
"Αφαίρεση συνοριακών επιφανειών σε διάχυτα μέσα"
Αριθμός Κατάθεσης: 20050100621/1005346

J. Ripoll, V. Ntziachristos
"Removal of boundaries in diffuse media"
Αριθμός Κατάθεσης: PCT/GR/2006/000068

Β. Λαδόπουλος
"Σύστημα αύξησης της ευκρίνειας τοποθέτησης του δρομέα σε μηχανές γραμμικής μετατόπισης"
Αρ. Αιτ.: 20010100384/1005826

Κ. Φωτάκης, Α. Ρανέλλα, Γ. Φιλιππίδης, Γ. Τσερεβελάκης, Ε. Αθανασάκη, Χ. Κυβελίδου
"Χρήση μη-γραμμικών απεικονιστικών τεχνικών για την αξιολόγηση της ποιότητας εμβρύων προεμφυτευτικού σταδίου και την προώθηση επιτυχούς εγκυμοσύνης"
Αρ. αίτησης: 20110100030

W. von Klitzing, Β. Μπόλπαση
"Βελτίωση της ενίσχυσης δέσμης λέιζερ μέσω διπλής διέλευσης της δέσμης από τον ενισχυτή"
Αρ. αίτησης: 20100100687

Α. Kλίνη, Ι. Γιαπιντζάκης, Κ. Φωτάκης, C. Grigorescu, Β. Ζορμπά
"Μέθοδος σύνθεσης διαμεταλλικών σιδηρομαγνητικών υμενίων"
Αριθμ. Αίτησης : 20010100176/1003869, Int. Appl. No: PCT/GR02/00022

Ν.A. Βάϊνος, Σ. Μαϊλης, Σ. Πισσαδάκης, Λ. Μπουτσικάρης, και Κ. Φωτάκης
"Χάραξη οπτικών μικροδομών και χρήσεις"
Αρ. Αίτησης: 950100097/1002163

B. Ζαφειρόπουλος, Π. Πουλή, Α. Εγγλέζης, Α. Πετράκης
"Μέθοδος και σύστημα για τον καθαρισμό επιφανειών με τη σύγχρονη χρήση παλμών laser δύο διαφορετικών μηκών κύματος"
Αρ. αίτησης 20020100116/1004453

V. Zafiropoulos, V. Pouli, A. Eglezis, A. Petrakis
"Method and System for Cleaning Surfaces with the Use of Laser Pulses of two Different Wavelengths"
ΕΡ 03386004.0-2307

C.P. Grigoropoulos, N. Misra, D.J. Hwang, C. Fotakis, P. Tzanetakis, E. Stratakis, E. Spanakis, University of California Berkeley Patent Disclosure
"“Imaging of Nanodevices and Nanostructures with Electrical Atomic Force Microscopy Complimented with Femtosecond Laser Illumination"
US case number B08-092, filed January 2008